鉅大LARGE | 點(diǎn)擊量:874次 | 2020年05月14日
嵌入式設(shè)計(jì)技術(shù)在選擇電源FET中的應(yīng)用
引言
最新的嵌入式設(shè)計(jì)為各行各業(yè)及各種應(yīng)用供應(yīng)了大量復(fù)雜的新產(chǎn)品和新服務(wù)。由于精簡成本的限制及提高性能的預(yù)期,嵌入式設(shè)計(jì)正在為各種包括家電、工具、建筑、服裝及我們周圍幾乎所有物品在內(nèi)的日常應(yīng)用供應(yīng)更小、更經(jīng)濟(jì)的解決方法。
這些嵌入式設(shè)計(jì)通常由一個(gè)微控制器和各種二級接口構(gòu)成,如電源。能夠放心且迅速簡便地選擇電源的元器件對供應(yīng)可靠的更小、更經(jīng)濟(jì)的解決方法至關(guān)重要。為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo),要使用直觀的測試測量工具,快速獲得優(yōu)化結(jié)果。本文重點(diǎn)介紹了電源分析的實(shí)際應(yīng)用,采用特定測量技術(shù)更加高效地選擇和確定相應(yīng)的元器件。
電源分析
在本例中,我們要為開關(guān)電源選擇最好的電源FET。晶體管的總功率損耗重要是開關(guān)損耗,但開關(guān)損耗計(jì)算起來要困難得多。我們可以根據(jù)FET的電流和開點(diǎn)電阻,相對簡便地計(jì)算開關(guān)電源的靜態(tài)損耗。
因?yàn)槌杀竞凸β蕮p耗是一對矛盾,而我們的目標(biāo)是選擇成本最低的部件,其總功耗不超過0.5W。在這里,我們預(yù)先確定要測試的四個(gè)晶體管。
圖1是標(biāo)準(zhǔn)開關(guān)電源的方框圖。我們使用差分探頭測量流經(jīng)晶體管的電壓,并使用電流探頭測量流經(jīng)晶體管的電流。接下來,我們將考察使用這一測試設(shè)備測得的開關(guān)損耗。
圖1電源電路和測試設(shè)置方框圖
圖2顯示的是開關(guān)晶體管通道1的電壓(黃色軌跡)和通道4的電流(綠色軌跡),可以用來計(jì)算功率損耗。注意,平滑電感器要足夠大,以便電流在晶體管打開期間不會上升得太高。此處簡化了晶體管中的功率損耗計(jì)算過程,因?yàn)殡娏髟诖蜷_期間上升大約不到10%,因此我們可以使用平均電流進(jìn)行計(jì)算。靜態(tài)功率損耗是平方后的電流乘以電阻,然后再乘以占空比(I2R×占空比)。每個(gè)元器件在2A處的靜態(tài)功率損耗已經(jīng)被計(jì)算出并列在表1中。
圖2工作電壓和電流波形
圖3是測得的額定電流最低的晶體管(NMD9700)的開關(guān)功率損耗。我們使用泰克DpOpWR分析軟件,設(shè)置成在通道1上使用差分電壓探頭測量流經(jīng)晶體管的電壓(黃色軌跡),在通道4上使用電流探頭測量電流(綠色軌跡)。它顯示了打開和關(guān)閉過程中的開關(guān)損耗,我們將使用總平均損耗值,因?yàn)檫@是兩個(gè)開關(guān)損耗的綜合結(jié)果。要注意,功率損耗重要取決于關(guān)閉過程。1.53W的總損耗(0.54W靜態(tài)損耗+0.99W開關(guān)損耗)明顯高于我們的目標(biāo)(<0.5W)??磥恚杀咀畹偷腇ET($0.88)不能滿足我們的需求。很明顯,即使是該晶體管的靜態(tài)損耗,仍然要高于我們的目標(biāo)損耗。
圖3第一個(gè)晶體管(NMD9700)的波形
下一個(gè)晶體管(NMD9720)的額定電流較高,成本也略高。如圖4所示,平均開關(guān)損耗較低,但其打開損耗要高于第一個(gè)晶體管。靜態(tài)損耗和開關(guān)損耗較低,但總損耗0.54W(0.19W靜態(tài)損耗+0.35W開關(guān)損耗)仍要高于我們的目標(biāo)(<0.5W)。成本第二低的部件($0.97)似乎更接近我們的功率損耗目標(biāo),但由于封裝限制,在環(huán)境溫度高時(shí),我們不能在沒有過熱風(fēng)險(xiǎn)的情況下處理高于我們目標(biāo)的功率損耗。
圖4第二個(gè)晶體管(NMD9720)的波形和測量結(jié)果
圖5是第三個(gè)晶體管(NMD9740),其平均功率損耗較低,但成本較高。其總損耗為0.41W(0.08W靜態(tài)損耗+0.33W開關(guān)損耗),低于我們的目標(biāo),因此這一產(chǎn)品不會過熱。產(chǎn)品成本為$1.83,要遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于以前的選項(xiàng),但產(chǎn)品封裝限制不允許使用損耗較低的設(shè)備。看上去這似乎是最好的選擇,但我們要看一下第四個(gè)部件(其靜態(tài)損耗要更低)來確認(rèn)這一選擇是否正確。
圖5第三個(gè)晶體管(NMD9740)的波形和測量結(jié)果
如圖6所示,第四個(gè)、也就是成本最高的晶體管(NMD9760)平均功率損耗較高,因?yàn)檫@是一個(gè)非常大的設(shè)備??倱p耗為0.55W(0.03W靜態(tài)損耗+0.52W開關(guān)損耗),高于第三個(gè)設(shè)備,同時(shí)也高于我們的目標(biāo)<0.5W。因此,我們可以看到,如果晶體管太大,那么開關(guān)損耗實(shí)際上會上升,產(chǎn)品要比成本較低的第三個(gè)晶體管熱。由于總功率損耗及成本,第四個(gè)晶體管并不是可行的選擇。
圖6第四個(gè)晶體管(NMD9760)的波形和測量結(jié)果
迅速簡便地測量電源晶體管中開關(guān)損耗的能力,使我們可以放心可靠地選擇電源的關(guān)鍵元器件。在本例中,第三個(gè)選項(xiàng)(NMD9740)供應(yīng)了最低的總功率損耗,滿足了我們的總損耗目標(biāo),因此熱縮器可以保持很小的體積,產(chǎn)品不會過熱。
電源測量和分析軟件為這類應(yīng)用及許多其它應(yīng)用供應(yīng)了多種電源測量功能。假如晶體管的rDS(ON)未知或要確認(rèn),也可以使用我們在開關(guān)損耗測量中使用的相同的測試設(shè)置進(jìn)行這一測量。還可以使用圖7所示的選擇菜單來測量電源的工作狀況,如頻率、占空比和其它參數(shù)。此外,可以檢定電感器或變壓器的電感、磁性損耗和其它指標(biāo)。
圖7電源系統(tǒng)設(shè)備測量的選擇屏幕測量結(jié)果
在設(shè)計(jì)電源時(shí),結(jié)合使用電源測量和分析軟件可以節(jié)約時(shí)間,與不使用這些強(qiáng)大的工具相比,供應(yīng)的結(jié)果要更準(zhǔn)確。由于熱量是電子系統(tǒng)發(fā)生故障的重要原因,因此進(jìn)行這一測量及類似測量尤其關(guān)鍵。如我們在第四個(gè)晶體管看到的那樣,體積過大的元器件實(shí)際上會浪費(fèi)熱量和成本。